(令和5年3月現在)
機器一覧 総合研究棟 / イノベーション社会連携推進機構棟
| No. | 機器名 (型番) |
機器・用途 | メーカー | アドバイザ | 担当 | サブ担当 | 設置場所 | 課金単位 |
| 1 | 汎用AFM (SPI-3800) |
最大20μm四方の 表面観察 |
セイコー インスツル |
岩田 | 三宅 | 石川 | 102 | 半日 |
| 2 | 簡易AFM (VN-8010) |
最大200μm四方の 表面観察 |
キーエンス | 岩田 | 石川 | 石川 | 102 | 1時間 |
| 3 | SPM (JSPM-5200) |
AFMおよびSTM観察 | 日本電子 | 岩田 | 石川 | 石川 | 102 | 半日 |
| 4 | デジタルマイクロスコープ (KH-7700) |
35-2500倍、 ３D観察も可能 |
Hirox | 下村 | 三宅 | 清水 | 102 | 1時間 |
| 5 | UV-Vis分光光度計 (V-670) |
紫外-可視光 による物質同定 |
日本分光 | 村上 | 高澤 | 三宅 早川 |
102 | 半日 |
| 6 | 蛍光分光 (FP-8600, FP-8700) |
蛍光を用いた 定性・定量 |
日本分光 | 川井 | 高澤 | 石川 | 102 | 半日 |
| 7 | レーザー顕微鏡 (VK-X3000) |
表面形状測定 | キーエンス | 石川 | 石川 | 三宅 | 102 | 1時間 |
| 8 | マイクロXRF (M4 TORNADO PLUS) |
蛍光X線 | ブルカー | 坂元 | 三宅 | 石川 | 103 | 1時間 |
| 9 | 粉末XRD (RINT2200) |
粉末X線回折 | リガク | 奥谷 | 三宅 | 石川 | 103 | 半日 |
| 10 | 多機能XRD (EMPYREAN) |
X線回折 | マルバーン パナリティカル |
坂元 | 三宅 | 石川 | 103 | 2時間 |
| 11 | ラマン (NRS-7100) |
可視光による物質同定 | 日本分光 | 石川 | 高澤 | 三宅 早川 |
103 | 2時間 |
| 12 | FT-IR (FT/IR-6300, IRT-7000) |
赤外線で物質同定、 マクロ、顕微、マッピング |
日本分光 | 石川 | 高澤 | 三宅 早川 |
103 | 半日 |
| 13 | ICP (Optima 2100DV) |
溶液中の元素の定量 | パーキン エルマー |
宮林 | 石川 三宅 |
石川 三宅 |
104 | 半日 |
| 14 | 熱分析 (DTG-60A) |
耐熱温度・ 熱量の計測 |
島津 | 戸田 | 草薙 | 石川 三宅 |
104 | 半日 |
| 15 | DSC (DSC-60Plus) |
示差走査熱測定 | 島津 | 根尾 | 草薙 | 石川 三宅 |
104 | 半日 |
| 16 | 有機微量元素分析 (Flash EA) |
有機物の微量元素分析 | サーモ エレクトロン |
戸田 | 草薙 | 石川 三宅 |
104 | 半日 |
| 17 | 原子吸光 (Solar S4-AA) |
吸光による元素分析 | サーモ エレクトロン |
河野 | 草薙 | 石川 三宅 |
104 | 半日 |
| 18 | 電気化学計測システム (HZ-Pro S4) |
交流インピーダンス サイクリックボルタンメトリ |
北斗電工 | 村上 | 草薙 | 村上 | 104 | 半日 |
| 19 | 充放電評価システム (HJ1001SD8) |
充放電特性評価 | 北斗電工 | 村上 | 草薙 | 三宅 | 104 | 半日 |
| 20 | ゼータ電位計 (Zetasizer Ultra) |
ゼータ電位・粒径測定 | マルバーン パナリティカル |
坂元 | 早川 | 草薙 | 104 | 1時間 |
| 21 | XRF (EDX-8000) |
元素分析 | 島津 | 村上 | 三宅 | 早川 | 104 | 1時間 |
| 22 | ESCA (ESCA-3400) |
光電子による 表面原子同定 |
島津 | 石川 | 石川 | 早川 | 104 | |
| 23 | 汎用SEM (S-3000N) |
二次電子表面観察 | 日立ハイテク | 石川 | 平田 | 三宅 | 104 | 半日 |
| 24 | イオンコータ (SC-701AT) |
SEM用金コート | サンユー電子 | 村上 | 石川 | 早川 | 104 | 1時間 |
| 25 | イオンミリング (EM RES101) |
イオンビームを使った TEM用試料の作製 |
LEICA | 村上 | 石川 | 早川 | 104 | 半日 |
| 26 | ソフトエッチング | 表面クリーニング | メイワ フォーシーズ |
村上 | 石川 | 三宅 | 104 | 1時間 |
| 27 | 白金スパッタ (JFC-1600) |
SEM用白金スパッタ | 日本電子 | 石川 | 三宅 | 早川 | 104 | 1時間 |
| 28 | 断面ポリッシャ (IB-09020 CP) |
断面試料作製 | 日本電子 | 石川 | 小山 | 石川 | 104 | 半日 |
| 29 | その場計測FE-SEM (JSM-7001F) |
高分解能表面形態観察、 元素分析、結晶相解析 |
日本電子、他 | 村上 | 石川 | 早川 | 104 | 2時間 |
| 30 | FE-EPMA (JXA-8530F) |
微量組成分析 | 日本電子 | 村上 | 小山 | 村上 | 104 | 半日 |
| 31 | W-SEM (JSM-6360LA) |
表面観察 | 日本電子 | 石川 | 三宅 | 清水 | 10F | 半日 |
| 32 | XRD (RINT UltimaII) |
X線回折 | リガク | 下村 | 小山 | 村上 | 10F | 半日 |
| 33 | NMR (AvanceIII HD400) |
核磁気共鳴装置 | ブルカー | 田中康 | 早川 | 平田 | イノベ | 1時間 |
| 34 | Mass spectroscopy (micrOTOF) |
質量分析計 | ブルカー | 田中康 | 早川 | 平田 | イノベ | 1時間 |
| 35 | 形状測定機 (VR-3200) |
形状測定 | キーエンス | 石川 | 石川 | 早川 | 102 | 1時間 |
| 36 | 3Dプリンタ (Bellulo200) |
融解型3Dプリンタ | システム クリエイト |
石川 | 早川 | 清水 | 101 |
機器一覧 ナノデバイス作製・評価センター
| No. | 機器名 (型番) |
機器・用途 | メーカー | アドバイザ | 担当 | サブ担当 | 設置場所 | 課金単位 |
| 1 | 薄膜XRD (RINT Ultima III) |
粉末・薄膜のX線回折 | リガク | 下村 | 小山 | 下村 | ナノデバイス | 半日 |
| 2 | 白金・カーボンコーター (SC701C) |
SEM用コート | サンユー | 石川 | 石川 | 三宅 | ナノデバイス | 1時間 |
| 3 | 広域AFM (XE-70) |
Z軸応答範囲12μmの 表面観察 |
パーク システムズ |
石川 | 三宅 | 石川 | ナノデバイス | 半日 |
| 4 | FE-SEM (JSM-6335F) |
高分解能表面形態観察 | 日本電子 | 村上 | 石川 | 早川 | ナノデバイス | 1時間 |
| 5 | 分析FE-SEM (JSM-7001F) |
高分解能表面形態観察、 元素分析 |
日本電子 | 村上 | 石川 | 早川 | ナノデバイス | 2時間 |
| 6 | FIB (JIB-4500) |
イオンビーム加工 | 日本電子 | 坂元 | 清水 | 坂元 | ナノデバイス | 半日 |
| 7 | イオンスライサー (EM-09100 IS) |
TEM用試料作製 | 日本電子 | 坂元 | 清水 | 坂元 | ナノデバイス | 1時間 |
| 8 | XPS (AXIS ULTRA DLD) |
光電子による 表面原子同定 |
島津 | 下村 | 三宅 | 石川 | ナノデバイス | 半日 |
| 9 | STEM (JEM-2100F) |
走査・透過電顕 | 日本電子 | 坂元 | 清水 | 坂元 | ナノデバイス | 半日 |
| 10 | カーボン蒸着機 (JEC-560) |
SEM用カーボン蒸着機 | 日本電子 | 石川 | 三宅 | 石川 | ナノデバイス | 1時間 |
| 11 | ソーラーシミュレーター (VK-SS-50, VK-IPCE-10) |
太陽電池の性能評価 | SPD研究所 | 村上 | 清水 | 石川 | ナノデバイス | 半日 |
| 12 | 比表面積計 (TriStarⅡ Plus) |
比表面積・ 細孔径分布の測定 |
島津 | 坂元 | 早川 | 草薙 | ナノデバイス | 半日 |
機器配置図
バナースペース
静岡大学 浜松共同利用機器センター
〒432-8561
静岡県浜松市中央区城北3-5-1
TEL 053-478-1756
FAX 053-478-1020