静岡大学　浜松共同利用機器センター

新着情報

2019年

今後の最新のお知らせは、静大WWP上に設置しました共同利用機器センターonWWP内の講習会・セミナーのお知らせで告知します。今後ともよろしくお願いします。

2019年2月13日

先端分析講演会・第5回分析基礎講座
日時　3月1日(金)　10:45〜16:00
場所　S-PORT3F 大会議室
内容　ラマン分光の基礎と応用
講師　福塚友和教授（名古屋大学）、田村耕平氏(日本分光)
ラマン分光法の活用事例を福塚友和先生に、ラマン分光法の基礎や原理を日本分光の
田村耕平氏にお願いしております。お申し込み不要です。ふるってご参加ください。
※申込み・問合せ先：浜松キャンパス共同利用機器センター

2018年11月27日(木)

分析基礎講座2018 第4回目
日時　12月6日(木)　14:00〜15:30
場所　総合研究棟10階会議室
内容　EPMAおよび蛍光X線についての基礎
講師　村上健司教授（EPMA）、三宅亜紀氏（技術部）
対象　EPMAを使用中の方から予定の方。元素分析に興味のある方。初心者大歓迎です
普段EDSで元素分析されている方も元素分析についての理解を深めたり分析の幅を
広げるためにぜひご活用ください。
※申込み・問合せ先：浜松キャンパス共同利用機器センター

2019年9月19日

分析基礎講座2018 第3回目
日時　9月27日(火)　15:00〜16:00
場所　総合研究棟10階会議室
内容　走査型電子顕微鏡の仕組みとよりよい観察をするための基礎技術
講師　石川誠特任助教
対象　走査型電子顕微鏡を使用予定の方〜初心者
走査型電子顕微鏡の仕組みとよりよい観察をするための基礎技術について。
今回は座学のみで実技はありません。
※申込み・問合せ先：浜松キャンパス共同利用機器センター

2019年5月21日

分析基礎講座2018 第１回目
日時　5月29日(火)　15:30〜17:00
場所　S-PORT3F 大会議室
内容　真空技術の基礎
講師　村上健司教授
対象　学部生（１年生から歓迎です）・院生・教職員 分析機器と密接にかかわってくる真空技術の基礎についての講座を開催します。
事前申込み不要です。ふるってご参加ください。
※申込み・問合せ先：浜松キャンパス共同利用機器センター

2018年10月4日

STEM講習会
日時　11月8,9日　10:00〜17:00
場所　ナノデバイス作製評価センターSTEM室
内容　TEMの基本的な利用法の説明（TEM軸調整、低倍率、高分解能）および STEMの基本的な利用法の説明（STEM軸調整、STEM-EDS）
講師　坂本先生
備考
・実機を操作していただきます。座学ではありません。
・秋以降に装置を使用する予定のある方を優先します。
・研究室でトレーニングを受けられない方を優先します。
・１研究室あたり１人までの応募に限らせていただきます。
・応募者多数の場合、申し込み順ではなくセンター側で選考と抽選させ ていただきます。
申込方法 件名をSTEM講習会参加希望として氏名、学年、研究室名を明記したメール を下記アドレスまでお送りください。締め切り日以降に参加の可否を改め てお送りします。 ※申込み・問合せ先：浜松キャンパス共同利用機器センター

2015年10月23日

STEM利用者講習会のお知らせ
STEM利用者講習会
日時　11月4日(水)　10:00〜17:00
場所　ナノデバイスセンターSTEM室
内容　TEM観察（高分解能像観察）ほか
講師　坂元先生
希望する講習内容がございましたらお知らせ下さい。
参加者の希望に合わせて内容を調整致します。
ただし、時間の都合によりご希望に添えない場合がございますのでご了承下さい。
※申込み・問合せ先：坂元先生　sakamoto.naonori@shizuoka.ac.jp
※STEM講習会はは既にTEMの操作に熟練した方が対象となります。

2015年5月21日

新XPS操作説明会２のお知らせ
教職員の皆様
　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございま す。さて、新XPSの操作説明会２を下記の要領で開催します。今回は、本装置に 付属しております、SIMS（2次イオン質量分析）装置及びXPSのイメージング機能 について講習を行います。本SIMSは四重極質量分析器を利用して高感度な質量分 析を行うことができ、物質の組成、化学構造、サブミクロンスケールの元素分布 や深さ方向分布に関する情報を得ることができます。

　　　　　　　　　　記
日　時：平成27年5月29日金曜日
　　　　　午前9時から午後5時
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター
講　師：島津製作所担当者
内　容：午前　SIMS機能の操作説明
　　　　午後　XPSイメージング機能
受講資格：当センターのESCA、旧XPS、新XPSの単独操作を複数回以上経験してい ること。学生の場合は大学院生以上であること。
以上
申込方法：研究室名、参加者名（学生の場合は学年）、連絡先（TEL及びE- mail）を明記して、電子メールで下村（shimomura.masaru@shizuoka.ac.jp）及 びCCで村上（murakami.kenji@shizuoka.ac.jp）までお申し込み下さい。 申込締切：2015年5月27日水曜日 なお、申し込み状況により、各研究室の参加者 を制限する場合があります。ご不明な点等がありましたら、下村または村上まで お問い合わせください。

2015年5月11日

DSC（DSC-60Plus）操作説明会のお知らせ
教職員の皆様
　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
　いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。さて、昨年度末に導入しました、示差走査熱量計（DSC）の操作説明会を開 催します。本装置は、高分子材料・医薬品・食品等の研究開発において材料の キャラクタリゼーションに必要不可欠な熱分析装置のひとつです。参加を希望さ れる研究室はお申し込み下さい。
　　　　　　　　　　記
日　時：平成27年5月19日火曜日
　　　　　午前10時から午後3時
場　所：総合研究棟104号室
講　師：島津製作所担当者
内容：午前　装置及び付属品の説明
　　　午後　分析法の説明
以上
申込方法：研究室名、参加者名（学生の場合は学年）、連絡先（TEL及びE- mail）を明記して、電子メールで新村（shimmura.chie@shizuoka.ac.jp）及びCC で村上（rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp）までお申し込み下さい。

2015年4月20日

超入門講座（その場計測・分析FE-SEM、ESCA）のお知らせ

ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEMの３つの装置で、初歩的なミスが多いことから、下記の日程で「超入門講座」を行うことにしました（各開催時ごとに5名限定）。30分から1時間程度で、装置を壊さないため、けがをしないための注意事項や、初歩的な操作方法を説明いたします。申込みしたい方は、各装置そばにある申込み者リストに記名してください（5月連休明けにリストを掲示します。そのときにはWebサイトにてご連絡します。先着順）。希望者が多いようでしたら、日程の追加を検討いたします。 　　　　　　　　　　　
　　　　　　　日程

ESCA　（講師：友田・新村、場所：総合研究棟104号室）
　　5/15（金）　10時〜　　　5/22（金）　10時〜
　　ESCA故障中につき、延期（5月下旬を予定）
その場計測FE-SEM（講師：新村、場所：総合研究棟104号室）
　　5/14（木）　10時〜　　　5/21（木）　10時〜

分析FE-SEM（講師：友田、場所：ナノデバイス作製・評価センター）
　　 5/29（金）　10時〜　　　5/29（金）　14時〜

2015年3月9日

エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDX-8000）講習会のお知らせ

教職員の皆様
　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
　いつも当センターをご利用頂き有り難うございます。今年度供用を開始しまし た、エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDX-8000）につきまして、分析方法 に絞りました講習会を下記の要領で開催します。ご希望の研究室はご参加下さい。
　　　　　　　記
日　時：2015年3月18日水曜日
　　　　9：20〜11：40
場　所：総合研究棟104号室204ゼミ室
内　容：EDXの原理、分析条件の選び方等
（今回は座学のみとなっております。前回行った操作説明会では説明しきれなかった、より詳しい分析条件の選び方等を講義していただきます。）
申込み方法：希望される研究室は、研究室責任者名，参加者名（身分，連絡先） をご記入の上，新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで村上 rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞）までメールにて3月13日金曜日までにお知らせ 下さい。なお，原則として各研究室から1名のご参加をお願いします。その他ご 不明な点等がありましたら、村上または新村までお問い合わせ下さい。

2014年12月15日

センター主催　分析基礎講座のお知らせ

静岡大学浜松キャンパス共同利用機器センターは、大型分析機器を多数所有し、静岡大学学内共同研究施設として運営されています。今回は利用者の最も多い電子顕微鏡についての理解を図ることを目的に、分析基礎講座を開催いたします。電子顕微鏡って何？という一般の方から、これから電子顕微鏡を始めようとしている学生、経験のある方でさらに学びたいという方まで、すべての方が楽しめる内容となっております。多数のご来場をお待ちしております。

日時：2015年1月19日（月）

特別講演(10:00-12:00)：ナノスーツ(Nanosuit)法による生体の電子顕微鏡観察からバイオミメティクスまで
講師：　浜松医科大学　医学部　総合人間科学講座　生物学部門
　　針山　孝彦　教授

講義1(13:00-14:30)：走査電子顕微鏡（SEM)入門
講義2(15:00-16:30)：エネルギー分散型X線分析(EDS)入門
講師：　日本電子株式会社
　　溜池　あかね　氏

対象：学生・教職員・一般（どなたでも） 参加料：無料 定員：150名 場所：静岡大学浜松キャンパス佐鳴会館大会議室 お問い合わせ：静岡大学浜松キャンパス共同利用機器センター　新村まで

2014年10月27日

STEMの操作説明会(教職員向け）のお知らせ

教職員の皆様

いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂きまして有り難うございま す。本センター設置のSTEM(JEM-2100F)の利用につきましては、こ れまで、当センターのTEM(JEM-2000FXII)の操作経験を前提としておりましたが、利用 者の皆様からのご要望を考慮しまして、教職員に限りまして は、TEMの操作経験を問わないこととしました。つきましては、新たにSTEMの利用をご 希望されます教職員の方は、下記の操作説明会にご参加下さい。よろしく お願いします。
　　　　　　　　
　記
日　時：2014年11月5日水曜日及び6日木曜日の2日間
場　所：電研ナノデバイス作製・評価センター　STEM室
講　師：日本電子
参加申込み：参加を希望されます教職員は、お名前、所属を明記の上、電子メールに て11月4日までに、新村 ＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞にも）までお 申し込み下さ い。
以上
　なお、学生の代理参加は認めませんので，ご承知置き下さい。また、お申し込み多数 の場合は、調整を行なうこともあります。併せてご理解下さい。
　ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年10月24日

TEMの操作説明会のお知らせ

工学研究科　教員の皆様
　いつも共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。急ではありますが、 標記TEMの操作説明会を下記の要領で開催しますので、ご希望の学生がおられ ましたら、お申し込み下さい。なお、当センターのSTEM(JEM-2100F)の利用に際しては、 大学院生以上でTEMの操作ができることとなっておりますの で、今後STEMを利用される予定がある場合は、参加をお願いします。
記
日　時：2014年10月30日木曜日
　　　　　10：00〜15：00
場　所：総合研究棟103室
講　師：技術部　高橋　技術職員
申込み方法：氏名、学年、所属研究室名を明記の上、教員名でメールにてセンター新村 特任助教＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで 村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞）まで10月29日までにお申し込み下さい。
　なお、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年9月29日

新XPSの操作説明会のお知らせ

教職員の皆様
　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
　昨年度、当センターに新設されましたcの操作講習会を下 記の要領で開催します。本装置は、試料から放出される 光電子のエネルギーを測定することにより、試料の構成元素とその電子状態を分析す ることができます。従来の装置に比べ、高機能・高精度化しており、2次元リアル タイムイメージング機能が付加されていることが最大の特徴です。さらに、SIMS（二次 イオン質量分析法）機能が加わり、試料中の微量元素の測定が可能です。今 回は、XPS測定に関して、操作法を説明致します。利用を希望される研究室はお申し込 み下さい。
記
日　時：2014年10月17日金曜日
　　　　　10：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター
参加資格：
　当センターのESCA(XPS)の単独操作を複数回以上経験していること。学生の場合は、 大学院生以上であること。
申込み方法：
　研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアド レスを、新村 ＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メー ルでお申し込み 下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数 調整を行なう場合があることを申し添えます。
申し込み期限：2014年10月8日水曜日
以上
　ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年9月25日

蛍光分光光度計の操作説明会のお知らせ

教職員の皆様 　　　　
浜松キャンパス共同利用機器センター長

　当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しましたが、その際、新たに蛍光分光光度計（FP-8600F及びP-8700）を導入しました。本装置を利用 して蛍光スペクトル（100nm〜1010nm）を測定することにより、試料の蛍光の有無、目的 物質の有無及び濃度、最適励起波長及び蛍光波長、蛍光分子の周囲 の環境、蛍光寿命及び燐光寿命、量子効率などを解明することができます。つきまし ては、下記の要領で操作講習会を開催しますので、利用を希望される研究室はお申 し込み下さい。
　　　　　　　　　　
記
日　時：2014年10月14日火曜日
2014年10月22日水曜日（台風のため、日程変更いたしました（2014/10/14）） 　　　　午前の部：10：00〜14：00（12：00〜13：00昼休み）
　　　　午後の部：14：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター
申込み方法：
　希望の時間帯（午前または午後の部）を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1 名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村 ＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メー ルでお申し込み 下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数 調整を行なう場合があることを申し添えます。
申し込み期限：2014年10月8日水曜日
2014年10月20日月曜日
以上

2014年9月25日

ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEM「超入門講座」
ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEMの３つの装置で、初歩的なミスが多いことから、下記の日程で「超入門講座」を行うことにしました（申込み不要）。30分から1時間程度で、装置を壊さないため、けがをしないための注意事項や、初歩的な操作方法を説明いたします。希望があるようでしたら、追加の日程も考えます。
ESCA（講師：友田和一特任職員）　10/10(金）14時〜　10/20(月）10時〜
その場計測FE-SEM（講師：友田和一特任職員）10/6(月）9時〜　10/24（金）9時〜
分析FE-SEM（講師：新村千江特任助)10/10（金）9時〜　10/20（月）9時〜

2014年6月25日

SEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)操作説明会のお知らせ
　
教職員の皆様 　　　　
浜松キャンパス共同利用機器センター長

　日頃から当センターの運用にご協力頂きまして、誠に有り難うございます。このた び、総合研究棟10階に設置されておりますSEM（EDS付）及びXRDを当セ ンターで管理運用することとなりました。SEMは、現有の分析SEMの上位機種に相当す るものであり、EDSと併せまして、数万倍までの観察ならびに元素分析が 低料金で行なえます。また、低真空での観察も可能です。また、XRDは、現有の薄 膜XRDの一世代前の機種（RINT Ultima II）ですが、薄膜仕様と して整備し直し、同様な測定が低料金で行なえます。つきましては、下記の要領で操 作説明会を開催しますので、利用を希望されます研究室はご参加下さい。
　　　　　　　　　　記
（１）XRD操作説明会
日　時：2014年7月1日火曜日
　　　　午前の部：10：00〜12：00
　　　　午後の部：13：30〜15：30
場　所：総合研究棟10階1010室
講　師：技術部　小山技術職員
（２）SEM・EDS操作説明会
日　時：2014年7月3日木曜日
　　　　10：00〜16：00
　　　　午前：SEM、午後：EDS
場　所：総合研究棟10階1010室
講　師：共同利用機器センター　新村特任助教

申込み方法：希望の操作説明会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加 者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレス を、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞ まで、メールでお 申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。
申込み期限：（１）XRD　　　 ：2014年6月30日月曜日
　　　　　　（２）SEM・EDS：2014年7月1日火曜日
以上
　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年6月7日

紫 外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ
　教職員の皆様
　　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
昨日配信しました操作講習会の内容に誤りがありましたので、装置を追加した 上で再度ご案内させて頂きます。既にお申込み頂きました場合も、改めてお申込 み頂くようよろしくお願いします。ご迷惑をおかけしまして、誠に申し訳ありま せん。
当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しました。つきましては、紫 外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光 NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会を下記の要領で 開催します。
　新紫外・可視・近赤外分光光度計は、190nm〜3,200nmまでの測定が可能とな り、自動絶対反射率測定装置も装備しました。新ラマン分光装置及び新 FT-IRには、マッピング機能が備わり、新ラマン分光装置は、325nm、532nm、 785nm及び1064nmの4本のレーザを搭載した顕微レーザラマン分光光度計となって おります。新FT-IR装置はこれまで同様、ミクロとマクロの測定が可能です。
　利用を希望される研究室は期限までにお申し込み下さい。

　　　　　　　記

（１）紫外・可視・近赤外分光操作講習会
日　時：2014年6月12日木曜日
　　　　10：00〜
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

（２）ラマン分光操作講習会
日　時：2014年6月13日金曜日
　　　　午前の部：10：00〜14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

（３）FT-IR操作講習会
日　時：2014年6月17日火曜日
　　　　午前の部：10：00〜14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

申込み方法：希望の操作講習会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室 名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールア ドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上 ＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生 の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。また、場所の関係で人数調整 を行なう場合があることを申し添えます。

申込み期限：（１）紫外・可視・近赤外分光：2014年6月9日月曜日
　　　　　　（２）ラマン分光装置：2014年6月10日火曜日
　　　　　　（３）FT-IR：2014年6月13日金曜日
以上
　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年6月4日

日程に誤りがありました。ラマン分光装置（日本分光NRS-7200)、FT-IR装置（日本分光FT-IR6300）操作講習会のお知らせ
　教職員の皆様
　　　　　　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
今回は、昨年度更新されました分光機器関連装置のうち、ラマン分光装置（日本分 光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操 作講習会のご案内です。両装置ともこれまでとの大きな違いは、マッピング機能が備 わったことです。新ラマン分光装置は、325nm、532nm、785nm及び 1064nmの4本のレーザを搭載した顕微レーザラマン分光光度計となっております。 新FT-IR装置はこれまで同様、ミクロとマクロの測定が可能です。
　講習会は下記の要領で開催しますので、利用を希望される研究室は期限までにお申 し込み下さい。
　　　　　　　記
（１）ラマン分光操作講習会
日　時：2014年6月12日木曜日2014年6月13日金曜日
　　　　午前の部：10：00〜14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

（２）FT-IR操作講習会
日　時：2014年6月13日金曜日2014年6月17日火曜日
　　　　午前の部：10：00〜14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00〜17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター
申込み方法：希望の操作講習会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加 者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレス を、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞ まで、メールでお 申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。また、 場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。
申込み期限：2014年6月9日月曜日
以上
　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年5月29日

EDX-8000操作講習会のお知らせ（2014年6月6日）
日頃から当センターの運用にご協力頂きまして、誠に有り難うございます。このた び、当センターに標記の分析装置EDX-8000（島津製）が設置されました。 本装置は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線のエネルギーやその強度を解析する ことにより、試料を構成する元素の種類や含有量を調べる装置です。非破壊で、 固体、粉体、液体などの元素分析ができ、プリント基板など電子機器に含まれる有害 元素も非破壊で迅速に分析できます。つきましては、下記の要領で操作講習会を開 催しますので、利用を希望されます研究室はご出席下さい。
　　　　　　　　記
日　時：2014年6月6日金曜日
場　所：浜松キャンパス総合研究棟1階104室
申し込み方法：希望される研究室は、講習会出席者（各研究室1名）の研究室名、氏名、 所属（学生の場合は学年）、連絡先メールアドレスを新村 ＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メー ルでお申し込み 下さい。追って、当日の詳細をお知らせします。
申し込み締切：2014年6月4日水曜日
以上
　その他、不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014年4月10日

教員の皆様 　日頃から浜松キャンパス共同利用機器センターの運営にご協力頂きまして、誠に有 り難うございます。お陰さまで、設置機器も充実し、利用者も年を追う毎に増えて きております。本年度も大いにご利用頂きたいと思います。つきましては、下記の日 程で今年度の利用者説明会を開催致しますので、ご都合の良い方にご出席のほどを 宜しくお願い致します。先生方がお忙しい場合は、学生の代理出席をお願いします。 　　　　　　　　　　
　　　　　　記
日　時：2013年4月14日月曜日及び17日木曜日
　　　　　10：00〜12：00
場　所：（浜松キャンパス）創造科学技術大学院　2階会議室
　　　　（静岡キャンパス）事務局別館　1A会議室
内　容：両日とも同じ内容で、テレビ会議で行ないます。
以上
　なお、センターウェブサイトの更新に伴い、利用者説明会におきまして利用者登録 を改めて行ないます。利用者登録申請書を添付しますので、ご記入の上説明会にご 持参ください。昨年度までの利用者登録は４月末で削除し、以降利用できなくなります。 ご理解のほど宜しくお願いします。また、今年度ご利用を予定されており、両 日ともご出席できない場合（各研究室から1名でいいです）は、事前に村上＜rskmura[@]ipc.shizuoka.ac.jp＞または新村＜tcshinm[@]ipc.shizuoka.ac.jp＞（[]を取る） まで必ずご連絡ください。その他ご不明な点等は、村上までお問い合わせください。よろしくお願いします。

2013年12月6日

デジタルマイクロスコープ（ハイロックス社製・KH8700）デモのお知らせ
浜松キャンパス共同利用機器センターでは、下記の日程で ハイロックス社製・デジタルマイクロスコープKH-8700の デモンストレーションを行います。 興味のある方は、お集まりください。
2013年12月9日（月）15時〜
場所：総合研究棟104号室
デジタルマイクロスコープKH-8700の詳細はこちら↓ http://www.hirox.com/products/kh8700.html
また、デモの後、12/9から12/13まで装置を104号室に展示いたしますので、 実際に操作して性能をお確かめください。

ICP操作講習会のお知らせ

浜松キャンパス共同利用機器センターで管理しておりました、ICP（誘導結合プラズ マ発光分光分析装置）の整備が終わりましたので、今秋から共同利用に供する こととなりました。 　ICPは、溶液試料中の元素を励起させ、元素特有の発光を分光器で分離（定性）し、そ の発光強度を測定する（定量）ことができます。測定できる濃度域が広いた め（ppm-ppb）、幅広い含有量の元素分析が可能です。測定可能元素は70元素以上ありま す（原子吸光法で困難なZr、Ta、希土、P、Bなども分析可 能）。また、多元素同時分析も可能です。なお、固体や粉末のような試料につきまして は、各種の前処理によって溶液化を行うことで分析が可能になります。 　つきましては、下記の要領で操作講習会を開催致します。
日　時：2013年8月27日（火）
　　　　　10：00〜17：00
場　所：総合研究棟104号室
講　師：新村千江（共同利用機器センター特任助教）
参加方法：電子メールにて、研究室名、参加者名（学生の場合は学年）、参加者の電子メー ルアドレスを、村上 ＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞までお申し込みください。なお、以降の操作法に関し ましては、研究室にて継承して頂きます。また、参 加者多数の場合は、各研究室からの参加人数を制限する場合があります。 問合せ先：新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞、村上
以上

2013年6月19日

FIB操作講習会を開催します
日時　2013年6月27日（木）10：00-17：00
場所　ナノデバイス作製・評価センターSTEM室
講師　工学研究科　下村教員
内容　FIBの基本的操作法
申し込み方法　操作講習会に参加を希望される研究室は、センター長・村上(rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp)まで、電子メールにてお申し込みください。
なお、人数には限りがありますので、新規利用研究室を優先する都合上、 ご希望に添えない場合があります。
その他ご不明な点も村上までお問い合わせください。
以上

2013年6月17日

STEM操作講習会を開催します
日時　2013年6月26日（水）10：00-17：00
場所　ナノデバイス作製・評価センターSTEM室
講師　工学研究科　坂元教員
内容　TEM像観察を中心とした操作方法の説明
申し込み方法　操作講習会に参加を希望される研究室は、センター長・村上(rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp)まで、電子メールにてお申し込みください。
なお、人数には限りがありますので、新規利用研究室を優先する都合上、ご希望に添えない場合があります。また、STEMの利用学生は大学院生としており、センターのTEM利用経験があるものとしていますことを申し添えます。
その他ご不明な点も村上までお問い合わせください。
以上
　※都合により、急遽、学外の方のみの参加といたしました。
学内の方向けの講習会は後日行う予定です。詳細が決定次第、お知らせいたします。