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紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）を学内利用者に公開いたします
　
本日より、上記装置を学内利用者に公開いたします。予約システムでご予約の上、ご利用ください。予約システム上の装置名は、仮称ですが、新UV-VIS、新ラマン分光、新FT-IRとなっています。

2014年6月16日

デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)と蛍光X線分析装置（EDX-8000)、使用開始
デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)と蛍光X線分析装置（EDX-8000)を、使用開始します。どちらも104号室にあります。
利用方法ですが、他の装置と違い、この２つは予約システムで予約していただく必要はありません。装置が空いていれば、使用可とします。使用の際、使用簿に記入していただき、センター側で予約システムに後で入力（課金のため）します。
利用料は、２つとも、1時間100円です（学内料金）。気軽に使用していただきたいということから、この利用方法になりましたが、利用したのに使用簿に記述がない、特定の研究室ばかりが使用していて使えない等の問題があるようでしたら、使用方法を変更いたしますので、よろしくお願いいたします。

2014年6月7日

紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ
　教職員の皆様
　　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長
昨日配信しました操作講習会の内容に誤りがありましたので、装置を追加した上で再度ご案内させて頂きます。既にお申込み頂きました場合も、改めてお申込み頂くようよろしくお願いします。ご迷惑をおかけしまして、誠に申し訳ありません。
当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しました。つきましては、紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光 NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会を下記の要領で開催します。
　新紫外・可視・近赤外分光光度計は、190nm～3,200nmまでの測定が可能となり、自動絶対反射率測定装置も装備しました。新ラマン分光装置及び新 FT-IRには、マッピング機能が備わり、新ラマン分光装置は、325nm、532nm、 785nm及び1064nmの4本のレーザを搭載した顕微レーザラマン分光光度計となっております。新FT-IR装置はこれまで同様、ミクロとマクロの測定が可能です。
　利用を希望される研究室は期限までにお申し込み下さい。

　　　　　　　記

（１）紫外・可視・近赤外分光操作講習会
日　時：2014年6月12日木曜日
　　　　10：00～
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

（２）ラマン分光操作講習会
日　時：2014年6月13日金曜日
　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00～17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

（３）FT-IR操作講習会
日　時：2014年6月17日火曜日
　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）
　　　　午後の部：14：00～17：00
場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター

申込み方法：希望の操作講習会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。

申込み期限：（１）紫外・可視・近赤外分光：2014年6月9日月曜日
　　　　　　（２）ラマン分光装置：2014年6月10日火曜日
　　　　　　（３）FT-IR：2014年6月13日金曜日
以上
　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。

2014/6/4

ラマン分光装置（NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ(2014/6/4)日程間違っていました

2014/5/29

EDX-8000操作講習会のお知らせ(2014/5/29)

2014/4/30

機器予約システムが新しくなりました(2014/4/30)

2014/4/10

4/14と4/17に利用者説明会を開催します。(2014/4/10)

2014/4/3

UV-Vis分光光度計(UV-3100PC(島津）、ナノデバイス作製・評価センター）をお譲りします(2014/4/3)

2014/1/29

FT-IR(JIR-WINSPEC50、ナノデバイス作製・評価センター）をお譲りします(2014/1/29)

2014/1/21

104号室のホットプレート（2014/1/21）⇒みつかりました

2013/10/23

浜松キャンパス共同利用機器センター冬季休業期間を2013/12/27(金)-2014/1/6(月)とします（2013/10/23）

2013/4/15

浜松キャンパス共同利用機器センターのサイトをリニューアルしました。

2015/12/16		共同利用機器センター主催「分析基礎講座」（2016/1/22）のお知らせ 2015年12月16日共同利用機器センター主催「分析基礎講座」のお知らせいつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用いただき、ありがとうございます。さて、昨年度に引き続き、今年度も当センター主催の分析基礎講座を下記の要領で開催します。多くの皆様のご参加をお待ちしております。記日　時：　2016年1月22日(金) 10：00～16：30 場　所：　静岡大学　浜松キャンパス　佐鳴会館ホールプログラム：講義　　光分析機器の基礎と応用～紫外可視・赤外・蛍光・ラマン～佐藤慎也氏（ジャスコエンジニアリング（株））講演　　1.バイオ領域の電子顕微鏡牛木辰男氏（新潟大学医学部教授） 2.拡がるSEMの可能性～ここまで進んだ大気圧走査電子顕微鏡～大南祐介氏（日立ハイテクノロジーズ）＊詳細はこちら（ポスター）をご覧下さい。問合せ先：　新村　千江（センター特任教員）以上
2015/12/15		年末年始休業期間（2015/12/25-2016/1/5）のお知らせ共同利用機器センターの年末年始休業期間を以下の通りに設定いたします。この期間内はセンターの装置は使用できません。 2015/12/25-2016/1/5（年末年始休業期間）
2015/10/23		STEM利用者講習会（2015/11/4）のお知らせ STEM利用者講習会日時　11月4日(水)　10:00～17:00 場所　ナノデバイスセンターSTEM室内容　TEM観察（高分解能像観察）ほか講師　坂元先生希望する講習内容がございましたらお知らせ下さい。参加者の希望に合わせて内容を調整致します。ただし、時間の都合によりご希望に添えない場合がございますのでご了承下さい。 ※申込み・問合せ先：坂元先生　sakamoto.naonori@shizuoka.ac.jp ※STEM講習会はは既にTEMの操作に熟練した方が対象となります。
2015/9/15		表面削り器SURFACER（JEOL JSD-700）を譲渡します表面削り器SURFACER（JEOL JSD-700）を譲渡します TEM等の試料作製に使う、表面削り器SURFACER（JEOL JSD-700）を譲渡します。譲渡希望の方は、共同利用機器センターまで連絡ください。
2015/7/10		共同利用機器センター夏季休業のお知らせ共同利用機器センターの夏季休業期間を以下の通りに設定いたします。この期間内はセンターの装置は使用できません。 2015/8/8-2015/8/18（夏季休業期間） 2015/8/28-2015/8/31(停電に伴う作業期間）
2015/5/21		新XPS操作説明会2のお知らせ教職員の皆様　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。さて、新XPSの操作説明会２を下記の要領で開催します。今回は、本装置に付属しております、SIMS（2次イオン質量分析）装置及びXPSのイメージング機能について講習を行います。本SIMSは四重極質量分析器を利用して高感度な質量分析を行うことができ、物質の組成、化学構造、サブミクロンスケールの元素分布や深さ方向分布に関する情報を得ることができます。　　　　　　　　　　記日　時：平成27年5月29日金曜日　　　　　午前9時から午後5時場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター講　師：島津製作所担当者内　容：午前　SIMS機能の操作説明　　　　午後　XPSイメージング機能受講資格：当センターのESCA、旧XPS、新XPSの単独操作を複数回以上経験していること。学生の場合は大学院生以上であること。以上申込方法：研究室名、参加者名（学生の場合は学年）、連絡先（TEL及びE- mail）を明記して、電子メールで下村（shimomura.masaru@shizuoka.ac.jp）及びCCで村上（murakami.kenji@shizuoka.ac.jp）までお申し込み下さい。申込締切：2015年5月27日水曜日なお、申し込み状況により、各研究室の参加者を制限する場合があります。ご不明な点等がありましたら、下村または村上までお問い合わせください。
2015/5/11		DSC(DSC-60Plus)操作講習会のお知らせ教職員の皆様　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。さて、昨年度末に導入しました、示差走査熱量計（DSC）の操作説明会を開催します。本装置は、高分子材料・医薬品・食品等の研究開発において材料のキャラクタリゼーションに必要不可欠な熱分析装置のひとつです。参加を希望される研究室はお申し込み下さい。　　　　　　　　　　記日　時：平成27年5月19日火曜日　　　　　午前10時から午後3時場　所：総合研究棟104号室講　師：島津製作所担当者内容：午前　装置及び付属品の説明　　　午後　分析法の説明以上申込方法：研究室名、参加者名（学生の場合は学年）、連絡先（TEL及びE- mail）を明記して、電子メールで新村（shimmura.chie@shizuoka.ac.jp）及びCC で村上（rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp）までお申し込み下さい。
2015/4/30		学外利用料金改定のお知らせ学外利用料を改定しました。新しい料金はこちらをご覧ください。
2015/4/27		分析関係セミナー情報：第19回細胞構造研究会“「美しい電顕画像と研究成果を得るための工夫」”開催のお知らせ第19回細胞構造研究会 “「美しい電顕画像と研究成果を得るための工夫」”が2015年6月20-21日に大阪大学で開催されます。詳しくはこちらをご覧ください。
2015/4/20		超入門講座（その場計測・分析FE-SEM、ESCA)のお知らせ ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEMの３つの装置で、初歩的なミスが多いことから、下記の日程で「超入門講座」を行うことにしました（各開催時ごとに5名限定）。30分から1時間程度で、装置を壊さないため、けがをしないための注意事項や、初歩的な操作方法を説明いたします。申込みしたい方は、各装置そばにある申込み者リストに記名してください（5月連休明けにリストを掲示します。そのときにはWebサイトにてご連絡します。先着順）。希望者が多いようでしたら、日程の追加を検討いたします。　　　　　　　　　　　　　　　　　　日程 ESCA　（講師：友田・新村、場所：総合研究棟104号室）　　~~5/15（金）　10時～　　　5/22（金）　10時～~~ 　　※ESCA故障中のため、日程は未定（5月下旬を予定）その場計測FE-SEM（講師：新村、場所：総合研究棟104号室）　　5/14（木）　10時～　　　5/21（木）　10時～分析FE-SEM（講師：友田、場所：ナノデバイス作製・評価センター）　　 5/29（金）　10時～　　　5/29（金）　14時～
2015/4/9		共同利用機器センター利用者説明会（2015/4/20、2015/4/23）のお知らせ共同利用機器センター利用者説明会を下記の日程で開催します。　　　　　　　　　　　2015年4月20日（月）　10-12時　　　　　　　　　　　2015年4月23日（木）　10-12時どちらか一回出席してください。利用者説明会に出席していない研究室の方は、共同利用機器センターを利用できません。場　所：(浜松キャンパス）S-port３階大会議室　　　（静岡キャンパス）共通教育A棟５階小会議室内　容：両日とも同じ内容で、テレビ会議で行ないます。以上なお、利用者説明会におきまして利用者登録を改めて行ないます。利用者登録申請書にご記入の上説明会にご持参ください。昨年度までの利用者登録は４月末で削除し、以降利用できなくなります。さらに、2014年に発表された、共同利用機器センターの機器を使用した研究論文を「センター関係研究成果報告書2014.xlsx」にご記入し、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞までメールでお送りください。ご理解のほど宜しくお願いします。また、今年度当センターのご利用を予定されており、両日ともご出席できない場合は、事前に村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞または新村まで必ずご連絡ください。その他ご不明な点等は、村上までお問い合わせください。よろしくお願いします。
2015/3/9		エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDX-8000）講習会（2015/3/18）のお知らせ教職員の皆様　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　いつも当センターをご利用頂き有り難うございます。今年度供用を開始しました、エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDX-8000）につきまして、分析方法に絞りました講習会を下記の要領で開催します。ご希望の研究室はご参加下さい。　　　　　　　記日　時：2015年3月18日水曜日　　　　9：20～11：40 場　所：総合研究棟~~104号室~~204ゼミ室内　容：EDXの原理、分析条件の選び方等（今回は座学のみとなっております。前回行った操作説明会では説明しきれなかった、より詳しい分析条件の選び方等を講義していただきます。）申込み方法：希望される研究室は、研究室責任者名，参加者名（身分，連絡先）をご記入の上，新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで村上 rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞）までメールにて3月13日金曜日までにお知らせ下さい。なお，原則として各研究室から1名のご参加をお願いします。その他ご不明な点等がありましたら、村上または新村までお問い合わせ下さい。
2014/12/15		センター主催・分析基礎講座（2015/1/19）のお知らせ静岡大学浜松キャンパス共同利用機器センターは、大型分析機器を多数所有し、静岡大学学内共同研究施設として運営されています。今回は利用者の最も多い電子顕微鏡についての理解を図ることを目的に、分析基礎講座を開催いたします。電子顕微鏡って何？という一般の方から、これから電子顕微鏡を始めようとしている学生、経験のある方でさらに学びたいという方まで、すべての方が楽しめる内容となっております。多数のご来場をお待ちしております。日時：2015年1月19日（月）特別講演(10:00-12:00)：ナノスーツ(Nanosuit)法による生体の電子顕微鏡観察からバイオミメティクスまで講師：　浜松医科大学　医学部　総合人間科学講座　生物学部門　　針山　孝彦　教授講義1(13:00-14:30)：走査電子顕微鏡（SEM)入門講義2(15:00-16:30)：エネルギー分散型X線分析(EDS)入門講師：　日本電子株式会社　　溜池　あかね　氏対象：学生・教職員・一般（どなたでも）参加料：無料定員：150名場所：静岡大学浜松キャンパス佐鳴会館大会議室お問い合わせ：静岡大学浜松キャンパス共同利用機器センター　新村まで
2014/12/15		分析FE-SEM付属EBSD操作講習会（2014/12/26）のお知らせ教職員の皆様　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。さて、下記の要領で分析FE-SEM（ナノデバイス作製・評価センターに設置）に付属していますEBSD（電子線後方散乱回折法）の操作講習会を開催します。参加を希望される研究室はお申し込み下さい。　　　　　　　　　　記日　時：2014年12月26日金曜日 10：00～16：00（予定）場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター講　師：ブルカー・エイエックスエス申込み研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを明記の上、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、電子メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数調整を行なう場合がありますことを申し添えます。申し込み期限：2014年12月22日月曜日以上　ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/11/28		共同利用機器センター冬季休業期間（2014/12/26-2015/1/5）のお知らせ共同利用機器センター冬季休業期間について本年度の共同利用機器センターの冬季休業期間は、2014/12/26-2015/1/5となります。
2014/10/29		その場計測FE-SEMと分析FE-SEMの予約単位を1時間としましたその場計測FE-SEMと分析FE-SEMの予約を1時間単位に変更しました。予約時間に稼働していない場合が多くみられ、使用したい人が使えないことがあることから、その場計測FE-SEMと分析FE-SEMの予約を1時間単位に変更しました。各研究室での週間最大予約数は、どちらの装置も12(12時間）となります。
2014/10/27		STEMの操作説明会（教職員向け11/5-6）のお知らせ教職員の皆様いつも浜松キャンパス共同利用機器センターをご利用頂きまして有り難うございます。本センター設置のSTEM(JEM-2100F)の利用につきましては、これまで、当センターのTEM(JEM-2000FXII)の操作経験を前提としておりましたが、利用者の皆様からのご要望を考慮しまして、教職員に限りましては、TEMの操作経験を問わないこととしました。つきましては、新たにSTEMの利用をご希望されます教職員の方は、下記の操作説明会にご参加下さい。よろしくお願いします。　　　　　　　　　記日　時：2014年11月5日水曜日及び6日木曜日の2日間場　所：電研ナノデバイス作製・評価センター　STEM室講　師：日本電子参加申込み：参加を希望されます教職員は、お名前、所属を明記の上、電子メールにて11月4日までに、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞にも）までお申し込み下さい。以上　なお、学生の代理参加は認めませんので，ご承知置き下さい。また、お申し込み多数の場合は、調整を行なうこともあります。併せてご理解下さい。　ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/10/24		TEMの操作説明会（10/30(木））のお知らせ工学研究科　教員の皆様　いつも共同利用機器センターをご利用頂き有り難うございます。急ではありますが、標記TEMの操作説明会を下記の要領で開催しますので、ご希望の学生がおられましたら、お申し込み下さい。なお、当センターのSTEM(JEM-2100F)の利用に際しては、大学院生以上でTEMの操作ができることとなっておりますので、今後STEMを利用される予定がある場合は、参加をお願いします。記日　時：2014年10月30日木曜日　　　　　10：00～15：00 場　所：総合研究棟103室講　師：技術部　高橋　技術職員申込み方法：氏名、学年、所属研究室名を明記の上、教員名でメールにてセンター新村特任助教＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞（CCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞）まで10月29日までにお申し込み下さい。　なお、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/10/14		蛍光分光光度計の操作説明会日程変更（10/22（水））のお知らせ教職員の皆様　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しましたが、その際、新たに蛍光分光光度計（FP-8600F及びP-8700）を導入しました。本装置を利用して蛍光スペクトル（100nm～1010nm）を測定することにより、試料の蛍光の有無、目的物質の有無及び濃度、最適励起波長及び蛍光波長、蛍光分子の周囲の環境、蛍光寿命及び燐光寿命、量子効率などを解明することができます。つきましては、下記の要領で操作講習会を開催しますので、利用を希望される研究室はお申し込み下さい。　　　　　　　　　　記日　時：~~2014年10月14日火曜日~~ 2014年10月22日水曜日（台風のため、日程変更いたしました（2014/10/14））　　　　午前の部：10：00～14：00（12：00～13：00昼休み）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター申込み方法：　希望の時間帯（午前または午後の部）を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1 名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。申し込み期限：~~2014年10月8日水曜日~~ 2014年10月20日月曜日以上
2014/9/29		新XPSの操作説明会のお知らせ(2014/9/29) 教職員の皆様　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　昨年度、当センターに新設されましたcの操作講習会を下記の要領で開催します。本装置は、試料から放出される光電子のエネルギーを測定することにより、試料の構成元素とその電子状態を分析することができます。従来の装置に比べ、高機能・高精度化しており、2次元リアルタイムイメージング機能が付加されていることが最大の特徴です。さらに、SIMS（二次イオン質量分析法）機能が加わり、試料中の微量元素の測定が可能です。今回は、XPS測定に関して、操作法を説明致します。利用を希望される研究室はお申し込み下さい。記日　時：2014年10月17日金曜日　　　　　10：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター参加資格：　当センターのESCA(XPS)の単独操作を複数回以上経験していること。学生の場合は、大学院生以上であること。申込み方法：　研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。申し込み期限：2014年10月8日水曜日以上　ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/9/25		蛍光分光光度計の操作説明会のお知らせ(2014/9/25) 教職員の皆様　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しましたが、その際、新たに蛍光分光光度計（FP-8600F及びP-8700）を導入しました。本装置を利用して蛍光スペクトル（100nm～1010nm）を測定することにより、試料の蛍光の有無、目的物質の有無及び濃度、最適励起波長及び蛍光波長、蛍光分子の周囲の環境、蛍光寿命及び燐光寿命、量子効率などを解明することができます。つきましては、下記の要領で操作講習会を開催しますので、利用を希望される研究室はお申し込み下さい。　　　　　　　　　　記日　時：~~2014年10月14日火曜日~~ 2014年10月22日水曜日（台風のため、日程変更いたしました（2014/10/14））　　　　午前の部：10：00～14：00（12：00～13：00昼休み）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター申込み方法：　希望の時間帯（午前または午後の部）を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1 名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み下さい。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。申し込み期限：~~2014年10月8日水曜日~~ 2014年10月20日月曜日以上
2014/9/25		ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEM「超入門講座」(2014/9/25) ESCA、その場計測FE-SEM、分析FE-SEMの３つの装置で、初歩的なミスが多いことから、下記の日程で「超入門講座」を行うことにしました（申込み不要）。30分から1時間程度で、装置を壊さないため、けがをしないための注意事項や、初歩的な操作方法を説明いたします。希望があるようでしたら、追加の日程も考えます。 ESCA（講師：友田和一特任職員）　10/10(金）14時～　10/20(月）10時～その場計測FE-SEM（講師：友田和一特任職員）~~10/6(月）9時～~~　10/24（金）9時～分析FE-SEM（講師：新村千江特任助)10/10（金）9時～　10/20（月）9時～
2014/7/28		共同利用機器センター夏季休業期間（2014/8/11から2014/8/19）(2014/7/28) 共同利用機器センターの夏季休業期間は以下のようになります。　　　2014/8/11(月)～2014/8/19(火) よろしくお願いいたします。
2014/7/28		予約システムの週間最大予約数について(2014/7/28) 同じ装置での同じ研究室からの週間最大予約数が固定となりました。週間最大予約数　２単位　ESCA（８時間で１単位）　　　　　　　　３単位　STEM、薄膜XRD、EPMA、その場計測FE-SEM（４時間で１単位）　　　　　　　　４単位　その他（デジタル顕微鏡、EDXは10単位までOK）（４時間ごとに予約する装置は４時間で１単位、ESCAは８時間で１単位、１時間ごとに予約する装置は１時間で１単位）週間最大予約数を超えて予約したい場合、装置担当者または管理者（総合研究棟１０１号室スタッフ）にご相談ください。（2014/7/28）管理者は、総合研究棟101号室スタッフです。（管理者が代理で予約すれば、無制限に予約がとれます。）プログラムに問題がある場合は、お知らせください。よろしくお願いいたします。
2014/7/22		SEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)のデータ取り出し方法について(2014/7/22) 総合研究棟10Fに設置されておりますSEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)からのデータの取り出し方法ですが、他の装置と異なりますのでご注意ください。センター指定のUSBメモリをご用意いたしました。センター指定のUSBメモリは、 XRD,SEMともに装置のPCの近くに置いてあります。データ取り出しの際、センター指定のUSBメモリのみが装置PCに差し込み可能です。 (ウイルス感染を防ぐためです） 1.センター指定のUSBメモリを装置PCに差し、データをUSBメモリに入れてください。 2. センター指定のノートPCでUSBメモリからCD-Rにデータをコピーしてください。 3. データはCD-Rで持って帰ること。 USBメモリは持ち帰らないでください。 ※ご自分のUSBメモリは使用不可です。 ※このルールは、総合研究棟10FのXRDとSEMのみ適用です。
2014/7/4		SEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)の使用開始予定(2014/7/4) 総合研究棟10Fに設置されておりますSEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)が下記の日程で使用可能になります。　SEM(JSM6360LA, EDS付)　2014年7月7日（月）より　XRD(RINT Ultima II)　　　2014年7月10日（木）より両方とも、使用料（学内料金）は、4時間で600円となります。
2014/6/25		SEM(JSM6360LA, EDS付)およびXRD(RINT Ultima II)操作説明会のお知らせ(2014/6/25) 　教職員の皆様　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長　日頃から当センターの運用にご協力頂きまして、誠に有り難うございます。このたび、総合研究棟10階に設置されておりますSEM（EDS付）及びXRDを当センターで管理運用することとなりました。SEMは、現有の分析SEMの上位機種に相当するものであり、EDSと併せまして、数万倍までの観察ならびに元素分析が低料金で行なえます。また、低真空での観察も可能です。また、XRDは、現有の薄膜XRDの一世代前の機種（RINT Ultima II）ですが、薄膜仕様として整備し直し、同様な測定が低料金で行なえます。つきましては、下記の要領で操作説明会を開催しますので、利用を希望されます研究室はご参加下さい。　　　　　　　　　　記（１）XRD操作説明会日　時：2014年7月1日火曜日　　　　午前の部：10：00～12：00 　　　　午後の部：13：30～15：30 場　所：総合研究棟10階1010室講　師：技術部　小山技術職員（２）SEM・EDS操作説明会日　時：2014年7月3日木曜日　　　　10：00～16：00 　　　　午前：SEM、午後：EDS 場　所：総合研究棟10階1010室講　師：共同利用機器センター　新村特任助教申込み方法：希望の操作説明会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。申込み期限：（１）XRD　　　：2014年6月30日月曜日　　　　　　（２）SEM・EDS：2014年7月1日火曜日以上　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/6/18		紫外・可視・近赤外分光（日本分光V670)、ラマン分光装置（NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）を使用開始(2014/6/18) 紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）を学内利用者に公開いたします。本日より、上記装置を学内利用者に公開いたします。予約システムでご予約の上、ご利用ください。予約システム上の装置名は、仮称ですが、新UV-VIS、新ラマン分光、新FT-IRとなっています。
2014/6/16		デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)、蛍光X線分光分析装置（EDX-8000)を使用開始(2014/6/16) デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)と蛍光X線分析装置（EDX-8000)を、使用開始します。どちらも104号室にあります。利用方法ですが、他の装置と違い、この２つは予約システムで予約していただく必要はありません。装置が空いていれば、使用可とします。使用の際、使用簿に記入していただき、センター側で予約システムに後で入力（課金のため）します。利用料は、２つとも、1時間100円です（学内料金）。気軽に使用していただきたいということから、この利用方法になりましたが、利用したのに使用簿に記述がない、特定の研究室ばかりが使用していて使えない等の問題があるようでしたら、使用方法を変更いたしますので、よろしくお願いいたします。
2014/6/7		ラマン分光装置（NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ(2014/6/7) 紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）を学内利用者に公開いたします　本日より、上記装置を学内利用者に公開いたします。予約システムでご予約の上、ご利用ください。予約システム上の装置名は、仮称ですが、新UV-VIS、新ラマン分光、新FT-IRとなっています。 2014年6月16日デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)と蛍光X線分析装置（EDX-8000)、使用開始デジタル顕微鏡（KH-7700,Hirox)と蛍光X線分析装置（EDX-8000)を、使用開始します。どちらも104号室にあります。利用方法ですが、他の装置と違い、この２つは予約システムで予約していただく必要はありません。装置が空いていれば、使用可とします。使用の際、使用簿に記入していただき、センター側で予約システムに後で入力（課金のため）します。利用料は、２つとも、1時間100円です（学内料金）。気軽に使用していただきたいということから、この利用方法になりましたが、利用したのに使用簿に記述がない、特定の研究室ばかりが使用していて使えない等の問題があるようでしたら、使用方法を変更いたしますので、よろしくお願いいたします。 2014年6月7日紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ　教職員の皆様　　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長昨日配信しました操作講習会の内容に誤りがありましたので、装置を追加した上で再度ご案内させて頂きます。既にお申込み頂きました場合も、改めてお申込み頂くようよろしくお願いします。ご迷惑をおかけしまして、誠に申し訳ありません。当センターでは、昨年度分光機器関連装置を更新しました。つきましては、紫外・可視・近赤外分光光度計（日本分光V670）、ラマン分光装置（日本分光 NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会を下記の要領で開催します。　新紫外・可視・近赤外分光光度計は、190nm～3,200nmまでの測定が可能となり、自動絶対反射率測定装置も装備しました。新ラマン分光装置及び新 FT-IRには、マッピング機能が備わり、新ラマン分光装置は、325nm、532nm、 785nm及び1064nmの4本のレーザを搭載した顕微レーザラマン分光光度計となっております。新FT-IR装置はこれまで同様、ミクロとマクロの測定が可能です。　利用を希望される研究室は期限までにお申し込み下さい。　　　　　　　記（１）紫外・可視・近赤外分光操作講習会日　時：2014年6月12日木曜日　　　　10：00～場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター（２）ラマン分光操作講習会日　時：2014年6月13日金曜日　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター（３）FT-IR操作講習会日　時：2014年6月17日火曜日　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター申込み方法：希望の操作講習会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。申込み期限：（１）紫外・可視・近赤外分光：2014年6月9日月曜日　　　　　　（２）ラマン分光装置：2014年6月10日火曜日　　　　　　（３）FT-IR：2014年6月13日金曜日以上　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/6/4		ラマン分光装置（NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のお知らせ(2014/6/4)日程間違っていました日程に誤りがありました。ラマン分光装置（日本分光NRS-7200)、FT-IR装置（日本分光FT-IR6300）操作講習会のお知らせ　教職員の皆様　　　　　　　　　　　　　　　　　　浜松キャンパス共同利用機器センター長今回は、昨年度更新されました分光機器関連装置のうち、ラマン分光装置（日本分光NRS-7200）及びFT-IR装置（日本分光FT-IR-6300）の操作講習会のご案内です。両装置ともこれまでとの大きな違いは、マッピング機能が備わったことです。新ラマン分光装置は、325nm、532nm、785nm及び 1064nmの4本のレーザを搭載した顕微レーザラマン分光光度計となっております。新FT-IR装置はこれまで同様、ミクロとマクロの測定が可能です。　講習会は下記の要領で開催しますので、利用を希望される研究室は期限までにお申し込み下さい。　　　　　　　記（１）ラマン分光操作講習会日　時：~~2014年6月12日木曜日~~2014年6月13日金曜日　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター（２）FT-IR操作講習会日　時：~~2014年6月13日金曜日~~2014年6月17日火曜日　　　　午前の部：10：00～14：00（昼休み含む）　　　　午後の部：14：00～17：00 場　所：電子工学研究所ナノデバイス作製・評価センター申込み方法：希望の操作講習会名及び午前または午後の部を明記の上、研究室名、参加者名（各研究室1名）、所属（学生の場合は学年）及び連絡先メールアドレスを、新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。なお、学生の場合も指導教員名でお申込み頂けると幸いです。また、場所の関係で人数調整を行なう場合があることを申し添えます。申込み期限：2014年6月9日月曜日以上　その他、ご不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/5/29		EDX-8000操作講習会のお知らせ(2014/5/29) EDX-8000操作講習会のお知らせ（2014年6月6日）日頃から当センターの運用にご協力頂きまして、誠に有り難うございます。このたび、当センターに標記の分析装置EDX-8000（島津製）が設置されました。本装置は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線のエネルギーやその強度を解析することにより、試料を構成する元素の種類や含有量を調べる装置です。非破壊で、固体、粉体、液体などの元素分析ができ、プリント基板など電子機器に含まれる有害元素も非破壊で迅速に分析できます。つきましては、下記の要領で操作講習会を開催しますので、利用を希望されます研究室はご出席下さい。　　　　　　　　記日　時：2014年6月6日金曜日場　所：浜松キャンパス総合研究棟1階104室申し込み方法：希望される研究室は、講習会出席者（各研究室1名）の研究室名、氏名、所属（学生の場合は学年）、連絡先メールアドレスを新村＜tcshinm@ipc.shizuoka.ac.jp＞及びCCで村上＜rskmura@ipc.shizuoka.ac.jp＞まで、メールでお申し込み下さい。追って、当日の詳細をお知らせします。申し込み締切：2014年6月4日水曜日以上　その他、不明な点等がありましたら、村上までお問い合わせ下さい。
2014/4/30		機器予約システムが新しくなりました(2014/4/30) 機器予約システムが新しくなりました。機器予約のボタンからお入りください。
2014/4/10		4/14と4/17に利用者説明会を開催します。(2014/4/10) 教員の皆様日頃から浜松キャンパス共同利用機器センターの運営にご協力頂きまして、誠に有り難うございます。お陰さまで、設置機器も充実し、利用者も年を追う毎に増えてきております。本年度も大いにご利用頂きたいと思います。つきましては、下記の日程で今年度の利用者説明会を開催致しますので、ご都合の良い方にご出席のほどを宜しくお願い致します。先生方がお忙しい場合は、学生の代理出席をお願いします。　　　　　　記日　時：2013年4月14日月曜日及び17日木曜日　　　　　10：00～12：00 場　所：（浜松キャンパス）創造科学技術大学院　2階会議室　　　　（静岡キャンパス）事務局別館　1A会議室内　容：両日とも同じ内容で、テレビ会議で行ないます。以上　なお、センターウェブサイトの更新に伴い、利用者説明会におきまして利用者登録を改めて行ないます。利用者登録申請書を添付しますので、ご記入の上説明会にご持参ください。昨年度までの利用者登録は４月末で削除し、以降利用できなくなります。ご理解のほど宜しくお願いします。また、今年度ご利用を予定されており、両日ともご出席できない場合（各研究室から1名でいいです）は、事前に村上＜rskmura[@]ipc.shizuoka.ac.jp＞または新村＜tcshinm[@]ipc.shizuoka.ac.jp＞（[]を取る）まで必ずご連絡ください。その他ご不明な点等は、村上までお問い合わせください。よろしくお願いします。
2014/4/3		UV-Vis分光光度計(UV-3100PC(島津）、ナノデバイス作製・評価センター）をお譲りします(2014/4/3) ナノデバイス作製・評価センターのUV-Vis分光光度計の更新に伴い、現有のUV-Vis分光光度計（島津、UV-3100PC)の共同利用が終了いたしましたので、希望者にお譲りしたいと思います。希望者は4月末日までにセンター長・村上までご連絡ください。（村上；rskmura[@]ipc.shizuoka.ac.jp, []を取る）ナノデバイス作製・評価センターUV-Vis分光光度計の利用者は、近日中に設置されるナノデバイス作製・評価センターの新しいUV-Vis分光光度計をご利用ください。
2014/1/29		FT-IR(JIR-WINSPEC50、ナノデバイス作製・評価センター）をお譲りします(2014/1/29) ナノデバイス作製・評価センターのFT-IRの更新に伴い、現有のFT-IR（日本電子、JIR-WINSPEC50)の共同利用が終了いたしましたので、希望者にお譲りしたいと思います。希望者は2/10までにセンター長・村上までご連絡ください。（村上；rskmura[@]ipc.shizuoka.ac.jp, []を取る）ナノデバイス作製・評価センターFT-IRの利用者は、総合研究棟102号室のミクロIR、マクロIRおよび、三月末にナノデバイス作製・評価センターに入る予定の新しいFT-IRをご利用ください。
2014/1/21		104号室のホットプレート（2014/1/21）⇒みつかりました 104号室のホットプレート（2014/1/21） 104号室の断面ポリッシャー横に置いてありました、ホットプレートが行方不明です。お心当たりのある方はご連絡ください。⇒みつかりました！
2013/10/23		浜松キャンパス共同利用機器センター冬季休業期間を2013/12/27(金)-2014/1/6(月)とします（2013/10/23）浜松キャンパス共同利用機器センターの冬季休業期間のお知らせ 2013/12/27(金)から2014/1/6(金)までの間、共同利用機器センターは冬季休業とします。この間、センターの装置はご利用できません（時間外利用もできません）。よろしくお願いいたします。
2013/4/15		浜松キャンパス共同利用機器センターのサイトをリニューアルしました。