ID番号
機器名称走査型電子顕微鏡（GS-SEM）
モデルJSM-6510LV
メーカー日本電子
部屋番号総合研究棟（大谷）2階211室
装置担当者
アドバイザー
外部リンクhttps://kiki.shizuoka.ac.jp/kiki/inside/140/
備考電子ビーム照射により発生する反射２次電子を用いて、試料の微細構造を観察・記録する装置。30倍 - 10万倍程度の像を観察できる。低圧力観察が可能。EDSは付いていない。