ID番号
機器名称透過型電子顕微鏡（TEM）
モデルJEM-1400Plus
メーカー日本電子
部屋番号総合研究棟（大谷）2階211室
装置担当者
アドバイザー
外部リンクhttps://kiki.shizuoka.ac.jp/kiki/inside/139/
備考電子ビームの透過を用いて、ナノ材料、高分子、細胞などの微細構造を観察・記録する装置。100倍 - 50万倍程度の像を得ることができる。STEM観察、EDS-元素マッピング像観察を行うことができる。